NI 將半導體測試系統的 PXI SMU 通道密度提升 6 倍
台北訊 – 2018 年 1 月 16 日 – NI 國家儀器 (Nasdaq: NATI) 為平台架構系統供應商，致力於協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰。今日，NI 發表了 PXIe-4163 高密度電源量測單元 (SMU)，其 DC 通道密度為上一代 NI PXI SMU 的 6 倍，適合用來測試 RF、MEMS 與混合訊號，以及其他類比半導體元件。
NI 全球銷售與行銷執行副總 Eric Starkloff 表示：「5G、物聯網與自動化汽車等高顛覆性技術的出現，迫使半導體產業必須持續推動技術發展，並採用更具效率的方式來進行半導體測試。半導體測試在 NI 的策略佈局中佔有重要地位；正因如此，我們正積極擴充旗下軟體平台與 PXI 的功能，並促成最新款 PXI SMU 的問世；PXI SMU 可協助晶片製造廠解決眼前的重大挑戰。」
許多晶片製造廠均已迅速採用半導體測試系統 (STS)，以達到提高產量、提升成本效益與縮減生產線規模等目的。新款 PXIe-4163 SMU 可進一步發揮上述功效。PXIe-4163 SMU 具備更高的 DC 通道密度，能在多站點應用上實現更高等級的平行機制，同時透過可立即用於生產的規格，達到實驗室等級的量測品質。工程師可結合運用上述優勢，將相同的儀控設備運用在檢驗實驗室與生產線上，如此即可減少與量測相關的種種難題，並縮短上市時間。
工程師可將新款 PXIe-4163 SMU，運用於 STS 設定或獨立式 PXI 系統中。產品的主要功能如下：
- 最多可提供 24 個通道的單一 PXI Express 插槽
- 每個通道 +/- 24 V
- 每個通道提供高達 100 mA 的源極/汲極
- 100 pA 的電流敏感度
- 高達 100 kS/s 的取樣率與更新率
- 具備 SourceAdapt，可將過衝與震盪降至最低
- 提供互動式的設定與除錯軟體
- 可容納高達 408 個高精確度 SMU 通道的單一 PXI 機箱 (4U 的機架空間)
- 可完整支援 STS，包括系統層級的接線、校準與接腳映射支援
STS 於 2014 年首度發表，為半導體生產測試提供了截然不同的方式。STS 是以 NI PXI 平台為基礎所建置而成，可協助工程師建置更具智慧效能的測試系統。這款 PXI 平台涵蓋 1 GHz 頻寬的向量訊號收發器、fA 系列 SMU、領先業界的商用現貨測試管理軟體 TestStand，以及超過 600 款 PXI 產品 (從 DC 到 mmWave 皆包含在內)。
若要深入了解 STS 功能，請造訪 www.ni.com/sts/zht/。