是德科技將低頻雜訊分析儀緊密整合入晶圓級解決方案平台
是德科技（Keysight Technologies Inc.）日前發表最新版的高效能先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）軟體，以協助工程師執行快速、準確、可重複的低頻雜訊量測。新版軟體包含新的操作介面，並且與Keysight WaferPro Express軟體緊密結合。WaferPro Express平台可針對半導體元件自動執行晶圓級量測。該平台是這個大框架的一部分，讓工程師能深入了解元件和電路中的雜訊，而不僅是在獨立系統進行單向雜訊量測。
現今的半導體工程師無不希望擁有一套靈活、可擴充的雜訊量測系統，以便進行元件特性分析。他們尤其需要一套整合了先進的低頻元件雜訊量測與分析及晶圓級量測的強大平台，讓他們能加速處理所有的晶圓級特性分析任務。Keysight A-LFNA與WaferPro Express軟體的完美組合，可全面滿足他們的需求。這套整合式解決方案簡化了封裝和晶圓級的個別元件和積體電路的雜訊量測。如同以往，工程師可使用Keysight WaferPro Express軟體，將高速直流、電容和RF S參數的量測進行程控與排序，同時還可自動執行晶圓探測控制。有了新推出的雜訊量測模組，現在他們可在測試套件中新增雜訊量測和分析功能。
Keysight A-LFNA內建的量測程式提供統包的直流和雜訊測量。舉例而言，如需量測N型MOSFET的雜訊，測試系統可自動選擇信號源，並載入可完整揭露元件本質雜訊的阻抗。工程師可接受這些建議設定，亦或進行修改，然後開始量測雜訊。接著Keysight A-LFNA便開始量測雜訊功率頻譜密度（1/f雜訊）和時域（RTN）內的雜訊。它還可透過多圖資料顯示視窗將量測所得的資料繪製成圖。各種不同的監視標籤可加速處理一般任務，例如：評估元件的直流操作點，並且量測功率頻譜密度曲線的斜率。藉由使用Keysight Model Builder Program（MBP）及IC-CAP等元件建模工具，工程師可分析雜訊資料並且呈現在元件模型中。電路設計人員可使用這些元件模型來確保極度準確的射頻和類比低雜訊電路設計。
台灣是德科技總經理張志銘表示：「我們的元件特性分析與建模軟體客戶各有不同的測試需求，從GaN可靠度和CMOS建模，到電磁感應器測試等。利用新的Keysight A-LFNA軟體操作介面，我們提供客戶在晶圓上進行元件雜訊量測與建模的能力，同時還提供完整且靈活的量測選項，從直流、電容到微波頻率上的S參數量測，一應俱全。」
Keysight A-LFNA提供領先業界的雜訊靈敏度（-183dBV2/Hz），讓元件建模與電路特性分析工程師可快速、準確地分析元件在高電壓（200 V）、超低頻率（0.03Hz）時的特性。半導體晶圓代工廠可利用這些強大的功能，加速開發製程設計套件，並且在元件製造時進行統計製程控制。不僅如此，運算放大器和線性穩壓器的IC製造商還可使用A-LFNA，來分析資料表中輸出電壓雜訊規格的特性。
更多關於Keysight A-LFNA的詳細資訊，請上網查詢：www.keysight.com/find/eesof-a-lfna。欲查看分析儀的高解析度產品圖片，請上網至www.keysight.com/find/A-LFNA_images。請上YouTube觀賞Keysight A-LFNA展示影片：https://youtu.be/dE__pYPFX2U。
供貨資訊
Keysight E4727A A-LFNA現已開始供貨。請聯絡是德科技以索取產品報價：www.keysight.com/find/contactus。