德州儀器與 Continental 推動進階汽車安全應用 聯合推出業界首款65 nm ARM Cortex 微控制器

(台北訊 ，2013 年 5 月 9 日)   德州儀器 (TI) 與國際汽車元件供應商Continental 宣佈，雙方合作推出業界首款支援快閃記憶體技術的 65 nm ARM Cortex 安全微控制器，現已投入量產。Continental 處理器支援電子制動系統 (PACE) 進階控制功能，為 Continental MK 100 系列電子穩定控制 (ESC) 系統的基礎。此創新技術是雙方過去 15 年間聯合開發的眾多技術之一，為領先業界的汽車安全產品不斷提升安全特性、功耗及可靠度。 65 nm快閃記憶體技術可為 TI Hercules™ 安全 MCU 開放市場產品奠定強大基礎。

Continental 底盤與安全產品事業群電子剎車系統業務部 IC 開發經理 Adrian Traskov 博士表示，Continental很高興成為第一家率先採用 TI 65 nm快閃記憶體技術以提供領先安全特性的汽車 ESC 系統製造商。開發複雜且精密的安全系列產品需要 TI 與 Continental 設計團隊密切合作，共同完成最終系統設計、IC 模型建立與模擬，方能推出用於 ESC 系統的最終產品。

Continental MK 100 ESC 系統是市場中獨特的產品，其高安全整合度及其支援 TI 65 nm 嵌入式快閃記憶體的安全 MCU 架構可為汽車製造商提供眾多優勢：

  • 車輛外形更小且儲存空間更大：將MK 100 ESC 感測器整合於控制器電路板及未來電子剎車制動系列，控制 Continental 或協力廠商促動器 (actuators) ，無需獨立控制器，減少控制器數量可增加車輛儲存空間；
  • 模組化方案支援各種功能：MK 100 系列可擴充各種功能，如主動防側翻 (rollover) 保護、拖車穩定度輔助及上坡起步輔助等，及其他汽車製造商所需的、自高端到普通車型的效能水準，可擴充的模組化安全 MCU設計讓效能及功能無縫整合；
  • 高性價比：此系列安全 MCU 單晶片提供超值嵌入式快閃記憶體技術與 65 nm 效能，實現高度量產安全特性；
  • 加強安全架構與功能：此系列安全 MCU 遵從 ISO 26262 與 IEC61508 開發流程與架構標準，方便整合於所需的安全性系統中。提升內建安全性能，加強記憶體使用效率，並隔離鎖步雙通道 ARM Cortex  核心線上診斷。此外，也支援即時核心比較及 CPU  與其它主要匯流排的記憶體保護，錯誤校正程式碼 (error correction code; ECC)，RAM單位元錯誤校正與雙位元錯誤檢測 (SECDED) ，為快閃記憶體及 RAM 提供改錯誤更正程式碼 (ECC)。其 RAM 可選 CPU 內建自動測試 (built-in- self-test; BIST) 能檢測潛在的隱藏故障，而核心比較模組則支援自動測試功能，智慧錯誤訊號發送模組可根據安全性錯誤、在周邊 RAM 偵測或選擇 ECC ，冗餘計時器及持續電壓及時脈監控。

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關於德州儀器

德州儀器 (TI) 為全球半導體設計製造公司，專精類比 IC 及嵌入式處理器開發。TI 擁有全球頂尖人才，銳意創新，塑造未來。TI 攜手100,000 多家客戶打造更美好未來。更多詳細資訊，請參見網頁：www.ti.com/tw。