NI 展示寬頻 5G 波形產生/量測技術 ― 適用於 5G 測試應用

台北訊 – 2017 年 6 月 5 日 – NI (Nasdaq 代號：NATI) 為平台架構系統供應商，致力於協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰。NI 今日於夏威夷檀香山舉行的 2017 年國際微波會議 (International Microwave Symposium，IMS) 中，正式展示 Pre-5G 波形產生與量測技術。這場技術展示主要強調 Verizon 5G 技術論壇 (5GTF) 與 3GPP 提議之新無線電 (NR) 實體層，在訊號產生與波形分析的代表性地位。

此次技術展示結合運用了 1 GHz 頻寬的 PXIe-5840 第二代向量訊號收發器 (VST)，以及用於調變及解調的 Pre-5G 軟體。重要的波形調變功能，則包括同時支援離散傅立葉轉換展頻正交頻分多工 (DFT-S-OFDM) 與正交頻分多工存取 (OFDMA)，以及彈性的子載波間距與元件載波組態；後者可支援 3GPP 5G NR 與 Verizon 5GTF 規格，且總支援頻寬高達 1 GHz。此次展示可支援高達 256-QAM 的調變類型，以及包括功率、鄰近通道功率與誤差向量幅度的量測結果。此項技術展示的傳統應用範圍包括測試 RFIC，例如 RF 功率放大器、前端模組與收發器。

「在測試與量測作業上，由於 NI 通常採取軟體為主的方式，我們得以隨著軟體開發一併革新 PXI 測試系統」，NI 無線設計與測試部門副總裁 Charles Schroeder 表示。「透過這類做法，工程師日後便能採用目前用來測試 LTE-A 與 LTE-A Pro 產品的相同 VST 架構測試系統，來測試 5G 產品。」

NI 全新的 5G 測試技術，讓全方位的 RF 與無線測試產品組合如虎添翼；而全新推出的軟體，則讓目前用來測試 802.11a/b/g/j/n/p/ac/ax、藍牙、GSM、UMTS、LTE/LTE-A、FM/RDS、GNSS 等嶄新技術的解決方案更加完美。NI 的 RF 與更智慧化的無線測試系統採用 NI 先進 VST 技術，有助於工程師降低測試成本。這些測試系統受益於 DC 與毫米波等 600 多種 PXI 產品，並整合時序與觸發功能，可透過 PCI Express Gen 3 匯流排介面與亞毫微秒等級的同步化功能，提供高速資料傳輸。使用者可以善用 LabVIEW 的產能與 TestStand 軟體環境、合作夥伴構成的活躍生態系統、附加 IP 與應用工程師，大幅降低測試成本、縮短產品上市時間，並確保測試儀器能因應未來挑戰。

若要進一步了解 VST，請造訪 www.ni.com/vst/zht/。