ADI MEMS加速度計為狀態監測應用提供極具吸引力的雜訊性能

台北2017年4月25日電 /美通社/ — Analog Devices, Inc.（NASDAQ: ADI）亞德諾半導體公司宣佈推出兩款專為工業狀態監測應用設計的高頻、低雜訊MEMS加速度計-ADXL1001和ADXL1002 。利用這些MEMS加速度計可實現高解析度振動測量，為早期軸承故障和機器故障的其他常見原因提供必要的資訊。過去，可用高頻MEMS加速度計雜訊性能不及傳統技術，阻礙了其應用，使得MEMS的可靠性、高品質和可重複性得不到發揮。如今，ADXL1001和ADXL1002在高頻範圍的雜訊性能與現有PZT壓電傳感器技術不相上下，使得ADI MEMS加速度計成為新一代狀態監測產品極具吸引力的選擇。ADXL1001和ADXL1002是ADI公司在高性能精密感測技術的最新典範，可為智慧工廠在物聯網應用提供高品質、高準確的數據，並實現從網路邊緣開展智慧感測。

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• 瀏覽ADXL1002的產品頁面、下載資料手冊、訂購樣品和評估板，請至：http://www.analog.com/ADXL1002
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關於ADXL1001和ADXL1002

ADXL1001和ADXL1002 MEMS加速度計在寬頻寬和大量程的基礎上實現了非常低的雜訊密度。這些加速度計有兩個型號，滿量程範圍分別為±100g (ADXL1001)和±50g (ADXL1002)。ADXL1002的典型雜訊密度為25 μg/√Hz，靈敏度為40mV/g；ADXL1001的典型雜訊密度為30 μg/√Hz，靈敏度為20mV/g。這兩款加速度計均採用3.0V至5.25V單電源供電，並提供完整自檢和超範圍指示等實用特性。ADXL1001和ADXL1002的額定工作溫度範圍為-40°C至+125°C。

產品的定價和供貨