安森美半導體展示能在微光使用的快速自動對焦技術

2015年3月2日 – 推動高能效創新的安森美半導體 (ON Semiconductor，美國納斯達克上市代號：ONNN) 已成功示範其第二代以獨特像素微鏡技術為特色的相位檢測自動對焦 (PDAF) 技術，可在25勒克斯 (Lux) 光照水平下快速對焦。這種獨特的技術已在具備1.1微米(um) 像素的1300萬像素(MP) 測試晶片中成功實現，並將用於今年內為移動終端市場客戶介紹的新品中。

傳統的智慧型手機自動對焦 (AF)算法使用反差檢測測量和多幀來調整鏡頭焦距。此試誤法可以花超過1.2秒找到圖像焦點。安森美半導體的PDAF技術使用雙像素測量目標圖像的相位資訊。這相位資訊用作計算鏡頭對焦所需的移動方向及距離只須少於0.3秒，視乎對焦致動器的速度。此外，安森美半導體已實現一個獨特的像素微鏡結構，保持PDAF像素的靈敏度，並確保為PDAF捕獲足夠的光以在低至25 Lux的微光下工作 (類似於一個燈光昏暗的房間)，而市場上的競爭技術採用的方法在像素靈敏度和微光自動對焦性能方面有所折衷。

安森美半導體行動和消費部門副總裁Shung Chieh說：「安森美半導體的PDAF技術是像素和光學疊層設計創新的成果，這縮減了近1/4的自動對焦時間，為行動設備用戶帶來絕佳的體驗。我們技術上領先的微光能力使智慧型手機製造商能讓他們的客戶在所有光照情況下快速自動對焦。」

安森美半導體將於2015年3月2日至5日在西班牙巴賽隆納舉行的世界行動通信大會 (Mobile World Congress) 展示其最新的影像感測器技術及產品。

關於安森美半導體

安森美半導體(ON Semiconductor，美國納斯達克上市代號：ONNN)致力於推動高能效電子的創新，使客戶能夠減少全球的能源使用。公司全面的高能效電源和信號管理、邏輯、離散及訂製方案陣容，幫助設計工程師解決他們在汽車、通訊、電腦、消費電子、工業、LED照明、醫療、軍事/航空及電源應用的獨特設計挑戰。公司運營敏捷、可靠、世界一流的供應鏈及品質項目，及在北美、歐洲和亞太地區之關鍵市場運營包括製造廠、銷售辦事處及設計中心在內的業務網路。更多資訊請訪問http://www.onsemi.com。