KEITHLEY推出高成本效益的元件測試方案
台北訊 – 2008年12月15日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)日前發表ACS Basic Edition，以及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃瞄軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大Keithley的自動化特性分析套件(ACS)陣容，搭配業界最完備的電源量測單元(SMU)，也就是Keithley的 SourceMeter® 系列產品，可取代老舊的曲線掃瞄儀器，透過單一解決方案執行基本的曲線掃瞄及參數測試，並將成本壓至極低的水準。ACS Basic Edition 現已開始供應，欲進一步了解詳細資訊，請瀏覽 http://keithley.acrobat.com/acsbasic/ 。
Keithley於2007年首先推出其ACS整合測試系統，提供獨特的量測功能，以及強大靈活的自動導向軟體，能滿足元件、晶圓、或晶舟層級的半導體特性分析需求。初期的ACS系統是針對大型晶圓探針台以及規模較大的晶圓測試應用所設計；而ACS Basic Edition鎖定桌上型的元件測試應用，這類應用雖不需整合式探針設備，但仍需要ACS平台提供的量測與軟體自動化功能。
簡單軟體讓您輕鬆上手
有別於其他測試系統，ACS Basic Edition提供一套龐大的資料庫，內含許多預設的元件測試程序，不僅能縮短啟動時間、減少程式碼的撰寫，還能簡化測試流程。ACS Basic Edition 結合了簡單易用的曲線掃瞄儀，以及參數分析儀的分析功能，任何人都可透過ACS Basic Edition輕鬆對一個半導體元件進行測試，並立即進行特性分析曲線與參考曲線的比較。
ACS Basic Edition提供一系列工具讓用戶根據不同元件類型輕鬆進行設定，技術人員僅須選擇所需元件類型的圖示，再選擇想要進行的測試項目，幾分鐘後螢幕上就會顯示特性曲線。ACS Basic Edition不僅搭配容易操作的曲線掃瞄儀，還提供空白表格讓您輕鬆套用格式。這項擴增功能得力於formulator，能針對未處理的曲線掃瞄資料進行數學或參數的擷取處理，意謂參數的特性分析，和曲線掃瞄儀一樣容易使用。在需要執行超過一種測試的情況，ACS Basic Edition 強悍的多重測試功能，讓使用者能在單一裝置上進行一連串的測試。
SourceMeter協助進行更廣泛的測試
Keithley的SourceMeter系列產品提供ACS Basic Edition電源量測功能。ACS Basic Edition 能搭配全系列Series 2400、Series 2600或Series 2600A儀器，提供高功率或微小訊號的特性分析功能，涵蓋1KW脈衝一直到極敏感的1fA量測解析度。在分析高功率元件的特性時，ACS Basic Edition通常會搭配Keithley Model 2612A雙通道SourceMeter系統儀器，這款儀器每個通道支援200V (兩個通道支援400V) 或10A的脈衝(1.5A連續式)。在更高功率的測試方面，ACS Basic Edition可搭配Keithley Model 2430 1kW Pulse Mode System SourceMeter尋找信號源及在150 微秒脈衝內、量測高達100V、10A的信號。在分析各種敏感元件─像是先進的矽閘(silicon gates)或奈米元件─的時候，通常會採用Keithley Model 2636A雙通道SourceMeter，提供兩個量測解析度達1fA的電源量測通道。亦可組裝多部SourceMeter儀器以得到更多元化的功能。
ACS Basic Edition 不僅支援Keithley全系列SourceMeter系統產品，還支援各種切換開關解決方案、常用的 LCR 儀器、以及各種測試配件。結合ACS Basic Edition的多樣測試能力，加上 Keithley Series 3700 或Model 707A 切換開關主機，讓系統能針對更複雜的元件─其中包括排列電阻器(resistor network)、運算放大器、或其他針腳數較高的元件，執行一連串的測試。有些元件需要進行DC I/V測試，以及電容或C-V量測。ACS Basic Edition能輕易利用多樣測試與切換開關功能，執行 DC I/V測試以及 LCR 量測作業。
在ACS與ACS Basic Edition軟體之間順暢切換
目前初期推出的ACS系統，支援封裝層級與晶圓層級的特性分析測試應用，包括參數化晶粒測試、晶圓級可靠性測試、參數特性分析、以及元件測試。包括新推出Basic Edition在內的所有ACS系統，均使用相同的關鍵設備，故能維持測試專案的可攜性，並維持系統間的相容。例如，在Basic Edition中建立的專案，可在任何使用相容硬體的ACS系統上執行。這意謂著小規模的ACS Basic Edition測試系統，可搭配運用在20部SourceMeter儀器上，藉以發展一個多點晶粒分類測試系統(multi-site die-sort system)。
詳細資訊
有關Keithley ACS Basic Edition、ACS系統、或其他半導體測試方案的詳細資訊，請瀏覽 https://admin.acrobat.com/_a16893448/acsbasic/ ，或聯絡：
電話： 03-5729077
傳真： 03-5729031
網 址： www.keithley.com.tw
地 址： 新竹市公道五路二段120號13F-3
關於美商吉時利儀器公司
美商吉時利儀器公司（吉時利儀器）有 60 年的量測產品經驗，是整合直流到 RF（射頻）的先進電性測量儀器及系統的世界領導廠商。產品能滿足在產品測試、製程監控、產品開發，以及研究工作中的新興量測需求。公司的客戶為全世界電子產業的科學家與工程師，涵蓋的領域包括先進材料研究、半導體元件及晶圓特性量測、以及最終產品的生產，如電子產品及可攜式無線裝置等。吉時利提供客戶精確的量測技術，也深刻了解客戶的應用，能夠改善其產品的品質、產能以及良率。