吉時利針對高速晶圓生產測試推出半導體測試軟體升級版
台北訊 – 2011年9月23日 – 先進電子量測方案的世界級領導廠商吉時利儀器公司推出獲得業界好評的吉時利測試環境（KTE）半導體測試軟體的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時利最快、最經濟有效的程式控制監控方案產品線S530參數測試系統使用所設計。有關KTE V5.3的詳細資訊，請瀏覽：http://www.keithley.com/data?asset=55833。
KTE是一款強大的測試開發和執行軟體平台，全球有數百家半導體晶圓廠皆使用吉時利前幾代的參數測試系統。現在，吉時利的S530測試系統利用這個經過業界長期驗證的軟體平台在最嚴苛的生產環境中實現了靈活的測試計畫開發和高速測試。現有的吉時利S400和S600系列參數測試儀用戶將能受益於S530系統上的KTE V5.3，因為他們可以將現有的測量程式輕鬆轉移到S530，而且現有測試儀和新的S530系統可以共用同一個測試計畫。
結合了30年的參數測試代碼開發實務經驗和市場上最快、最先進的系統硬體優勢，吉時利進一步將KTE測試開發和執行環境擴展至S530系統。S530儀器提供程式控制監控等參數測試應用要求的高速和廣泛測量範圍。
吉時利致力於讓新測試系統高度相容於較早的系統，以支援吉時利參數測試客戶。保持軟體相容性的承諾，使轉移路徑更為平順，並能在為測試平台加入更新、更高速測試儀的同時，保護晶圓廠的測試軟體投資。
對於吉時利參數測試的新客戶而言，遵守系統軟體連續性的承諾會讓客戶對經過業界長期驗證軟體基礎的測試系統充滿信心。
對於已經使用KTE較早版本的客戶來說，KTE V5.3加速並簡化了S530測試系統到測試平台的整合。
- 同一種測試方法和測試方案適用於所有吉時利自動參數測試系統，這不僅縮短了使用多個系統的測試工程師和操作人員的學習過程，而且在測試平台上增加新的高速系統，或取代較早期平台時提供平穩的轉換路徑，進而保護晶圓廠的測試開發投入。
- 使用者只需重新編譯和重新建立多年來為更早吉時利系統開發的用戶資料庫，只需進行少量的除錯下，就能繼續在S530上使用這些資料庫。
- KTE V5.3簡化了建立條件測試順序的新用戶擷取點（user access point；UAP）原始碼以及制訂S530的系統工作流程。為早期吉時利系統開發的UAP原始碼在少量的調整下，適用於S530系統。
- KTE的工具對吉時利所有參數測試平台都提供完全相同的功能。
S530的KTE適和在標準工業PC的Linux作業系統上運作，可保持長期的穩定性也易於維護。這項軟體已針對高速生產測試環境優化了速度，也提升了可靠性。運作KTE V5.3的S530系統能實現程式控制監控、過程可靠監控和元件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530系統特別針對某些生產參數測試環境進行優化，包括必須配合廣泛產品組合的環境，必須維持廣泛應用靈活性的環境，或快速測試方案開發。
關於適用於S530型號的吉時利測試環境KTE V5.3的更多資訊，請瀏覽：http://www.keithley.com/data?asset=55833。
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關於吉時利儀器公司
吉時利儀器公司擁有超過60年的量測專業，為世界先進電子量測儀器和系統的領導廠商。公司的客戶為全世界電子產業的科學家與工程師，涵蓋的領域包括先進材料研究、半導體元件開發和製造，以及可攜式無線裝備的生產。吉時利提供客戶精確的量測技術，也深刻瞭解客戶的應用，協助客戶提高產品品質同時降低測試成本。吉時利儀器於2011年成為太克科技測試與量測事業群的一員。